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大行程全自动影像测量仪-LT系列全自动影像测量仪LT系列是科唯仪器针对大尺寸工件精密测量需求设计的全尺寸检测设备。LT系列集非接触式影像、激光和接触式探针检测功能于一体，可全面确保精密工件加工工艺的二维尺寸、高度尺寸、空间尺寸准确性，根据不同产品的工艺需求搭配不同的软硬件可满足PCB行业、液晶行业、钣金行业、背光行业、锂电行业等上下游工艺中的不同生产需求，提高生产效率。 全自动影像测量仪LT系列是科唯仪器针对大尺寸工件精密测量需求设计的全尺寸检测设备。LT系列集非接触式影像、激光和接触式探针检测功能于一体，可全面确保精密工件加工工艺的二维尺寸、高度尺寸、空间尺寸准确性，根据不同产品的工艺需求搭配不同的软硬件可满足PCB行业、液晶行业、钣金行业、背光行业、锂电行业等上下游工艺中的不同生产需求，提高生产效率。 产品特征：1、设备测试精度高、测量快速、运行平稳、放大倍率高、分辨率高 2、超高精度移动龙门驱动结构 3、进口设备替代机型 规则参数：

高精度全自动影像测量仪-HP系列全新高精度设计，空间测量高度300mm采用全花岗石结构，固定桥式，移动工作台结构，精密滚珠丝杆，直线电机驱动有效减少阿贝误差情况下提升了设备的高速性、性、平稳性、实现高精度测量。 全新高精度设计，空间测量高度300mm 采用全花岗石结构，固定桥式，移动工作台结构，精密滚珠丝杆，直线电机驱动有效减少阿贝误差情况下提升了设备的高速性、性、平稳性、实现高精度测量。 HP系列搭载1:13高分辨率自动同轴光光学系统，集非接触式影像、激光和接触式探针检测功能于一体，可全面确保精密工件加工工艺的二维尺寸、高度尺寸、空间尺寸准确性，根据不同产品的工艺需求搭配不同的软硬件可满足3C行业、液晶行业、医疗行业、半导体行业等上下游工艺中的不同生产需求，提高生产效率。 规格参数：

复合式影像测量仪-HE系列广泛应用于汽车电子、手机零部件、精密机械加工、金属加工件、塑料件、液晶面板和相关元器件。 选择的理由： 1、配置1：8物方远心镜筒，与HP系列光学系统同一设计理念及工艺，与NAVITAR镜筒媲美，后期维护成本极低。 2、采用全花岗石结构，固定桥式，移动工作台结构，精密滚珠丝杆，减少阿贝误差，与海克斯康OPTIV系列、蔡司 OINSPECT同等设计。3、多样化光源设计，解决测量中难题，看得见、看得清、可靠稳定。 规格参数：

X系列芯片封装尺寸测量仪半导体芯片封装高精度检测设备是科唯仪器针对半导体类小而精的产品进行高精高效率测量的检测设备。设计理念追求化繁为简，采用8x或13X物方远心镜筒配备10X/0.3高分辨率金相物镜，实现精而准的测量需求。 半导体芯片封装高精度检测设备是科唯仪器针对半导体类小而精的产品进行高精高效率测量的检测设备。设计理念追求化繁为简，采用8x或13X物方远心镜筒配备10X/0.3高分辨率金相物镜，实现精而准的测量需求。 自动测量模块 直观的测量界面，方便操作员立即发现未通过检测的工件以及超过公差范围的产品。 无需精确摆放被测工件，操作员可快速装载多片工件，系统自动识别并测量被测产品。 自动收集所有必须的数据做统计，为每一个测量的单件创建一份报告，无需额外增加时间。 可测量元素：长度，距离，内径，外径，角度，平行度，对称性，正交性，轮廓的任何几何测量，DXF比对等。 专业应用，只为半导体测量而生 测量芯片位置尺寸 测量芯片XY位置 测量封帽后芯片同心度 测量共晶后芯片同心度、高度、打线的焊盘大小 测量焊盘高度、线弧高度 P......

大行程一键式闪测测量仪VT闪测测量仪是一款专为平面快速测量而设计的光学测量仪。测量系统易于使用，测量速度快，一次可测量多片产品，在保证精准度与全尺寸测量的同时，极大的减少了测量时间，提高测量效率。 VT闪测测量仪是一款专为平面快速测量而设计的光学测量仪。测量系统易于使用，测量速度快，一次可测量多片产品，在保证精准度与全尺寸测量的同时，极大的减少了测量时间，提高测量效率。 规格参数：

工具金相显微镜（中性） 搭载高分辨率光学系统，保证产品观察无虞 电动 Z 轴升降，更符合人工学设计 数据处理系统协同更加方便 XY 轴移动轻顺，定位精准 工作台严格表面镀层工艺，保证外观 技术参数型号 JX3020 JX3030 JX4030 三轴行程(mm) 300*200*150 300*300*150 400*300*150 工作台面尺寸(mm) 506*356 456*456 ......